TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.

Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.

 

Eksperci z całego świata będą dyskutowali o metrologii w nanoskali

Data: 01.03.2016 Kategoria: konferencje/seminaria/wykłady

Ponad 70 naukowców z 5 kontynentów weźmie udział w konferencji „Nanoscale” organizowanej na Politechnice Wrocławskiej w dniach 9-11 marca. Jest to cykliczne spotkanie, w którym uczestniczą ośrodki badawcze zajmujące się nanometrologią

Na Politechnice takimi działaniami zajmuje się Zakład Metrologii Mikro- i Nanostruktur Wydziału Elektroniki i Fotoniki. - W erze rozwoju nanotechnologii i masowej produkcji nanoukładów, jak procesory czy czujniki, powtarzalny pomiar różnych właściwości jest kluczowy np. w przypadku kontroli jakości – mówi prof. Teodor Gotszalk,  koordynator konferencji na PWr, kierownik Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur.  - Gdy zbliżamy się do granicy materii, którą jesteśmy w stanie obserwować czy manipulować, kłopotem staje się znalezienie wzorców oraz konstrukcja odpowiednich narzędzi pomiarowych, które podadzą liczbowo wymiar np. kwadratu o długości boku 5 atomów – dodaje.

Profesor tłumaczy, że wzorce są również niezbędne, aby móc zwymiarować ten sam obiekt w laboratoriach na całym świecie i uzyskać ten sam wiarygodny wynik.

Oprócz Politechniki Wrocławskiej współorganizatorami konferencji „Nanoscale - 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods” są Physikalisch-Technische Bundesanstalt (Niemcy) oraz Główny Urząd Miar (GUM) w Warszawie. Przyjadą goście z nie tylko z krajów europejskich, ale także z Azji, Australii, Ameryki Północnej oraz Afryki.

- Seminarium ma zachęcać do wymiany wiedzy i doświadczeń pomiędzy metrologami, naukowcami, a także inżynierami z zakresu nowoczesnej, precyzyjnej aparatury oraz technik pomiarowych w celu znalezienia najwiarygodniejszych rozwiązań – mówi Michał Świątkowski z Wydziału Elektroniki i Fotoniki PWr.

Poza obradami w programie przewidziane jest również zwiedzanie laboratoriów badawczych Zakładu Metrologii Mikro- i Nanostruktur, w tym Laboratorium Mikroskopii Bliskich Oddziaływań oraz Laboratorium Drobnowidztwa i Drobnodziejstwa.
Seminarium rozpoczyna się 9 marca, miejscem obrad będzie Centrum Kongresowe Politechniki Wrocławskiej (budynek D-20).
Szczegóły tutaj.
ISZ

Politechnika Wrocławska © 2024

Nasze strony internetowe i oparte na nich usługi używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Ochrona danych osobowych »

Akceptuję