TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
Data: 24.10.2018
Miejsce wydarzenia: Politechnika Wrocławska, bud. C-2
Na Politechnice Wrocławskiej odbędzie się posiedzenie wyjazdowe Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej PAN we Wrocławiu.
Spotkanie rozpocznie się o godzinie 10.30. Wezmą w nim udział eksperci zajmujący się kwestiami pomiarów różnych wielkości elektrycznych i nieelektrycznych, pod przewodnictwem prof. Janusza Gajdy z PAN. W programie posiedzenia są m.in. obrady komisji i zwiedzanie laboratoriów Zakładu Nanometrologii na Wydziale Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki.
Więcej o działalności Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej na stronie internetowej PAN.
Nasze strony internetowe i oparte na nich usługi używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Ochrona danych osobowych »